日本MIC超高精度數(shù)字電阻測試儀AE-173E

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更新日期：2024-03-20

簡要描述：

日本MIC超高精度數(shù)字電阻測試儀AE-173E
內(nèi)置換檔電磁閥電源：DC12V（2A）、24V（1A）/脈沖輸出（2A）
內(nèi)置無缺陷計(jì)數(shù)器

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日本MIC超高精度數(shù)字電阻測試儀AE-173E

非常適用于 B、C、D、F、G、J、K、M 級、Melf 和軸向電阻器的噴漆輸送機(jī)

內(nèi)置換檔電磁閥電源：DC12V（2A）、24V（1A）/脈沖輸出（2A）
內(nèi)置無缺陷計(jì)數(shù)器
由于熱電動勢抵消測量的高精度和高穩(wěn)定性
通過各量程的測量值積分時間設(shè)置功能實(shí)現(xiàn)高速和高穩(wěn)定性測量
% 測量：± 9.999% / -99.99% ~ + 25.00% [10mΩ ~ 100MΩ]
值測量：0.00mΩ 至 125MΩ
接觸檢查：測量前/測量后/OFF 可選
RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（GP-IB可選）
打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（符合 Centronics）
設(shè)置值傳輸功能標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（將相同的設(shè)置數(shù)據(jù)傳輸?shù)搅硪慌_AE-173E并可以自動設(shè)置）
測量電流/測量電壓異常檢查電路標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備

日本MIC超高精度數(shù)字電阻測試儀AE-173E

測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C），校準(zhǔn)后90天[校準(zhǔn)后1年：雙倍]

測量范圍	標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍	測量電流	測量精度^*
測量范圍	標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍	測量電流	慢 [高分辨率]	快速 [LO-Resco.]	快速 [Lo-Resco.]
100mΩ	5mΩ-100mΩ	180mA	±0.01%±α±10d以內(nèi)	±0.02%±α±2d以內(nèi)	± 0.03% ± 2α ± 3d ± [2 / (1 + n)] d
1Ω	100.1mΩ～1Ω	180mA	±0.005%±α±3d以內(nèi)	±0.02%±α±1d以內(nèi)	± 0.02% ± α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω	1.001Ω～10Ω	90mA	±0.005%±α±3d以內(nèi)	±0.02%±α±1d以內(nèi)	± 0.02% ± α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	18mA	±0.005%±1d以內(nèi)	±0.02%±1d以內(nèi)	± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ	100.1Ω～1kΩ	9mA
10kΩ	1.001kΩ～10kΩ	0.9mA
100kΩ	10.01kΩ-100kΩ	90μA
1兆歐	100.1kΩ～1MΩ	9μA	±0.007%±1d以內(nèi)		± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.9 微安	±0.02%±10d以內(nèi)	±0.03%±1d以內(nèi)	± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ	10.01MΩ-100MΩ	0.09 微安	±0.1%±20d以內(nèi)	±0.1%±2d以內(nèi)	----

* D = 位數(shù)，n = 積分時間（毫秒），Lo-Reso。測量值時應(yīng)用。
測量百分比時：α = (100 / 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定值 mΩ) x 0.01%，測量值時：α = 0 (add ± 1d)
* *屏蔽狀態(tài)下的精度

測量時間	外部啟動		自由奔跑
	慢	快速地	慢	快速地
	供電 1 個周期 + 7.5msec. ~ 408msec.	大約 11.5 毫秒-408 毫秒。	約5次/秒～約2次/秒	約10次/秒～約2次/秒

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